SOP4 места для испытаний на старение, гнездо для программирования чипа, шаг 2,54 мм для эффективного тестирования и сжигания,

Тестовое гнездо для сжигания чипа SOP4, расстояние 2,54 мм, простота в эксплуатации для спаренных изоляторов, Прямая поставка

Держатель для тестирования и программирования чипов SOP4, пространство 2,54 мм для нескольких типов корпусов

5X5MM QFN32 ATmega8 ATmega48 ATmega88 ATmega168 AVR 2,54 мм Гнездо для сжигания Тестовая розетка для программирования Испытательный стенд

Игла для сжигания, пружинная игла 1,27/2,0/2,54 мм, шаг 3/4/5/6/7/8P, Однорядная игла для тестирования

SDIP24 1,778 мм, шаг 2,54 мм, 1,778 мм, испытательное сиденье, испытательный стенд, тестовое гнездо, сиденье для программирования

QFN48 MLF48 Испытательная розетка IC, шаг 0,5 мм, раскладушка, размер чипа 7*7, адаптер для флэш-адаптера, розетка для программирования IC550-0484-004-G, гнездо для записи

IC51-0162-296 SSOP16 Шаг 1,0 мм Гнездо для сжигания позолота Сиденье для тестирования IC Испытательный стенд для гнезда

QFN48 MLF48 Испытательная розетка IC, шаг 0,5 мм, раскладушка, размер чипа 7*7, адаптер для флэш-адаптера, розетка для программирования IC550-0484-004-G, гнездо для записи

IC51-0162-296 SSOP16 Шаг 1,0 мм Гнездо для сжигания позолота Сиденье для тестирования IC Испытательный стенд для гнезда

Бесплатная доставка DFN8 QFN8 WSON8 CNV-USON8-DIP8 2*3 мм, шаг 0,5 мм IC, тестовое сиденье, испытательный стенд, тестовое гнездо, сиденье для программирования

Подставка для испытаний на старение Dfn5x6-8l (EP2), позолоченная, высокотемпературная подставка для старения, 1,27 мм, приспособление для сжигания

QFN16 MLF16 ожога в гнездо IC тестовая розетка IC550-0164-005-G шаг 0,5 мм размер чипа 3*3 флэш-адаптер раскладушка программирующая розетка

08QN50S23030 DFN8/DIP размер 3*3 мм шаг 0,5 мм IC тестовое сиденье испытательный стенд тестовое гнездо программирования сиденья

Бесплатная доставка SOIC32 SOP32 ножка 14,12*14,12 мм шаг 1,27 мм IC тестовое сиденье испытательный стенд тестовое гнездо программирования сиденья

QFP48 STM32F STM32L IC51-0482-806 Разъем для сжигания 0,5 мм, позолоченное гнездо для тестирования IC Испытательный стенд для гнезда

DFN-8/DIP8 MLPD-UT-8 Шаг 2X2 мм, 0,5 мм, гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

DFN-8/DIP8 MLPD-UT-8 Шаг 2X2 мм, 0,5 мм, гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

SSOP28 TO DIP28 (B) TSSOP28 Enplas IC тестовое гнездо программирования адаптер шаг 0,65 мм

QFN40 MLF40 разъем для программирования IC тестовое Гнездо шаг 0,5 мм раскладной Чип Размер 6*6 адаптер для вспышки Программирование SMT/SMD тестовое г...

Тестовый разъем QFN64 MLF64, разъем с ИС, шаг IC550-0644-006-G, 0,5 мм, размер чипа 9*9, адаптер для вспышки, разъем для программирования

QFP48 STM32F STM32L IC51-0482-806 Разъем для сжигания 0,5 мм, позолоченное гнездо для тестирования IC Испытательный стенд для гнезда

08QN50S23030 DFN8/DIP размер 3*3 мм шаг 0,5 мм IC тестовое сиденье испытательный стенд тестовое гнездо программирования сиденья

Технические параметры, технические параметры, тестовый стенд для тестирования, тестовое гнездо для программирования

Технические параметры, технические параметры, тестовый стенд для тестирования, тестовое гнездо для программирования

Технические параметры, технические параметры, тестовый стенд для тестирования, тестовое гнездо для программирования

Технические параметры, технические параметры, тестовый стенд для тестирования, тестовое гнездо для программирования

YAMAICHI LQFP100-DIP100 QFP100 TQFP100 16*16 14*14 Сиденье для тестирования IC Испытательный стенд для разъема Испытательное гнездо для программирования

STM32-LQFP100 STM32L151VB/52VB/STM32F103VE/STM32F207VC Сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд для разъема Гнездо для программирования

STM32-LQFP100 STM32L151VB/52VB/STM32F103VE/STM32F207VC Сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд для разъема Гнездо для программирования

YAMAICHI LQFP100-DIP100 QFP100 TQFP100 16*16 14*14 Сиденье для тестирования IC Испытательный стенд для разъема Испытательное гнездо для программирования