QFN44 QFN-44(52)BT-0.5-01 Шаг микросхемы 0,5 мм Гнездо для прожига позолоченное покрытие Сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд

QFN44 QFN-44(52)BT-0.5-01 Шаг микросхемы 0,5 мм Гнездо для прожига позолоченное покрытие Сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд

QFN-40BT-0.4-01 QFN40 Шаг 5X5 мм, гнездо для проживания 0,4 мм, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

QFN36 MLF36 QFN36/DIP36 QFN-36B-0,5-01 6X6 мм Гнездо для проживания позолоченное IC испытательное сиденье Испытательный стенд для гнезда

QFN-32(40)BT-0.5-02 QFN32 Размер 5x5 мм, шаг 0,5 мм, испытательное сиденье для микросхем, испытательный стенд

DFN-8/DIP8 MLPD-UT-8 Шаг 2X2 мм, 0,5 мм, гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

QFN-32(40)BT-0.5-02 QFN32 Размер 5x5 мм, шаг 0,5 мм, испытательное сиденье для микросхем, испытательный стенд

DFN-8/DIP8 MLPD-UT-8 Шаг 2X2 мм, 0,5 мм, гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

QFN36 MLF36 QFN36/DIP36 QFN-36B-0,5-01 6X6 мм Гнездо для проживания позолоченное IC испытательное сиденье Испытательный стенд для гнезда

QFN-40BT-0.4-01 QFN40 Корпус 5x5 мм, шаг 0,4 мм, испытательное сиденье для микросхем, испытательный стенд для гнезда

QFP48 OTQ-48-0,75-01 Гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

QFN8 WSON8/DIP DFN8 корпус 4*4 мм, шаг 0,8 мм, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для разъема

QFP48 STM32F STM32L IC51-0482-806 Разъем для сжигания 0,5 мм, позолоченное гнездо для тестирования IC Испытательный стенд для гнезда

QFN8 WSON8/DIP DFN8 корпус 4*4 мм, шаг 0,8 мм, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для разъема

QFP48 STM32F STM32L IC51-0482-806 Разъем для сжигания 0,5 мм, позолоченное гнездо для тестирования IC Испытательный стенд для гнезда

Корпус QFN44/DI, шаг 8x8 мм, 0,8 мм, IC, испытательное сиденье, испытательный стенд, тестовое гнездо, сиденье для программирования

Корпус LORANGER QFN24, шаг 5x5 мм, шаг 0,65 мм, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для тестового гнезда

STM8AF6x STM8S207x STM8S208 STM8AL1x LQFP64 Гнездо для проживания позолоченное сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд для гнезда

44QN 5017070 QFN44/DIP44 Гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для тестовой розетки

XC95144 EMP240T100 EPM570T100 CPLD-TQFP-100 TQFP100 Гнездо для проживания позолоченное сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд для гнезда

HSSOP36 OTS-36-0,65-02 Гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

STM8AF6x STM8S207x STM8S208 STM8AL1x LQFP64 Гнездо для проживания позолоченное сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд для гнезда

QFP80-DIP80 TQFP80 LQFP80 Гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

QFP80-DIP80 TQFP80 LQFP80 Гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

LQFP64 STM32 Гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

STM32-LQFP100 STM32L151VB/52VB/STM32F103VE/STM32F207VC Сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд для разъема Гнездо для программирования

LQFP64 STM32 Гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

LQFP48 STM32 Гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для гнезда

QFN24 DFN24 Гнездо для проживания позолотой Сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд для гнезда

STM32-LQFP100 STM32L151VB/52VB/STM32F103VE/STM32F207VC Сиденье для тестирования микросхем Испытательный стенд для разъема Гнездо для программирования

SDP-UNIV-48TS TSOP48/DIP48 Гнездо для проживания, позолота, сиденье для тестирования микросхем, испытательный стенд для тестовой розетки