Metal Microscope Carbon Steel Analysis Semiconductor Test Chip Detection Zoom in 50-100 Times Failure Analysis Objective Lens

Metal Microscope Carbon Steel Analysis Semiconductor Test Chip Detection Zoom in 50-100 Times Failure Analysis Objective Lens
артикул: 32910058106
СОГЛАСНО НАШИМ ДАННЫМ, ЭТОТ ПРОДУКТ СЕЙЧАС НЕ ДОСТУПЕН
$55.00
Доставка из: Китай
   Характеристики
Brand Name: FGHGF
Carbon steel analysis: B
Carbon structure: G
Chip detection: D
DIY Supplies: Metalworking
Failure analysis: F
LCD detection: J
metallurgy: H
Metal microscope: A
Microelectronics: K
mineral: I
Model Number: Objective lens
Output Type: 20.2mm
Semiconductor test: C
Zoom 100 times: E
   График изменения цены & курс обмена валют

Пользователи также просматривали